Facilities & Capabilities

研究量能

從薄膜製程、電池組裝到材料分析,支援能源材料的開發與驗證。

製程設備

Thin-Film Deposition 薄膜沉積

RF 濺鍍與熱蒸鍍系統,支援薄膜沉積、表面改質及預鋰化製程。

Thin-Film Deposition 薄膜沉積 — 設備/量測圖
Thin-Film Deposition 薄膜沉積 — 設備/量測圖
Thin-Film Deposition 薄膜沉積 — 設備/量測圖
Thin-Film Deposition 薄膜沉積 — 設備/量測圖
Thin-Film Deposition 薄膜沉積 — 設備/量測圖
Thin-Film Deposition 薄膜沉積 — 設備/量測圖

Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨

粉體製備、表面改質及共摻雜製程。

Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨 — 設備/量測圖
Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨 — 設備/量測圖
Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨 — 設備/量測圖
Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨 — 設備/量測圖
Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨 — 設備/量測圖
Heat Treatment & Ball Milling 熱處理與球磨 — 設備/量測圖

Argon Glove Box 氬氣手套箱

鋰/鈉化合物製備、複合固態電解質製作及鋰/鈉離子電池組裝。

Argon Glove Box 氬氣手套箱 — 設備/量測圖
Argon Glove Box 氬氣手套箱 — 設備/量測圖

Molecular Beam Epitaxy 分子束磊晶

CIGS 薄膜成長、成分與厚度控制,以及表面與界面後處理。

Molecular Beam Epitaxy 分子束磊晶 — 設備/量測圖
Molecular Beam Epitaxy 分子束磊晶 — 設備/量測圖
Molecular Beam Epitaxy 分子束磊晶 — 設備/量測圖
Molecular Beam Epitaxy 分子束磊晶 — 設備/量測圖

分析設備

In-situ SEM 臨場電子顯微鏡

觀察電極形貌在操作過程中的變化。

In-situ SEM 臨場電子顯微鏡 — 設備/量測圖
In-situ SEM 臨場電子顯微鏡 — 設備/量測圖

DLS 動態光散射

分析粉體粒徑分布與分散情形。

DLS 動態光散射 — 設備/量測圖
DLS 動態光散射 — 設備/量測圖

Electrochemical Test System 電化學測試

循環伏安 CV、充放電 GCD、線性掃描 LSV、交流阻抗 EIS 等電化學性能量測。

Electrochemical Test System 電化學測試 — 設備/量測圖
Electrochemical Test System 電化學測試 — 設備/量測圖
Electrochemical Test System 電化學測試 — 設備/量測圖
Electrochemical Test System 電化學測試 — 設備/量測圖
Electrochemical Test System 電化學測試 — 設備/量測圖
Electrochemical Test System 電化學測試 — 設備/量測圖

PL / TRPL 光激發螢光

半導體光學性質及載子復合行為分析。

PL / TRPL 光激發螢光 — 設備/量測圖
PL / TRPL 光激發螢光 — 設備/量測圖

共用儀器

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

貴重儀器中心設備;本實驗室提供技術諮詢。分析表面元素組成、化學態及鍵結,並支援 UPS、LEIPS 與深度分析。

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) — 原理/設備圖
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) — 原理/設備圖
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) — 原理/設備圖
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) — 原理/設備圖
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) — 原理/設備圖
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) — 原理/設備圖

儀器位置:工程四館材料所 127 室 (AES/ESCA)

實驗室技術諮詢:曾暄凱 Hsuan-Kai Tseng · a8911814@gmail.com 預約與官方管理窗口請見貴重儀器中心頁面。

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SEM 7600F 掃描式電子顯微鏡

材料系共用儀器;本實驗室提供技術諮詢與管理。高解析觀察材料表面、元件、薄膜與剖面微結構。

SEM 7600F 掃描式電子顯微鏡 — 原理/設備圖
SEM 7600F 掃描式電子顯微鏡 — 原理/設備圖
SEM 7600F 掃描式電子顯微鏡 — 原理/設備圖
SEM 7600F 掃描式電子顯微鏡 — 原理/設備圖

儀器位置:材料科技館 R119

曾暄凱 · a8911814@gmail.com 蔡宗諺 · iantsai93@gmail.com

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